若試品Cx在試驗電壓下產生局部放電時，經耦合電容Ck產生脈沖電流，由輸入單元拾取得脈沖訊號，經低噪音前置放大、濾波放大器選擇所需頻帶及主放放大后，在示波屏的橢圓掃描基線上顯示出電放脈沖，同時也送到脈沖峰值表（對數表）顯示其峰值。時間窗單元控制試驗電壓每一周期內脈沖峰值表的工作時間，并在這段時間內將顯示屏的顯示加亮，寬度與位置可以改變，進一步加強了抗干擾能力。
功能特點
測量通道：2/4通道測量，立的信號調理、AD采樣、處理、顯示，且實現同步采樣。
測量功能：可檢測局部放電幅值、性、相位、放電起始電壓、熄滅電壓、次數等相關參數。
同步功能：內、外同步選擇，且具有零標指示和相位分辨功能。
顯示方式：可選擇橢圓、直線、正弦及二維、三維等界面顯示局部放電信號，可直觀的分析測試過程中信號的頻率、相位、幅度以及試驗電壓之間的相互關系。
局部放大：可對單個或某一段放電信號進行波形分析，確定信號的性質。
開窗功能：可在*相位開窗（消隱），用于特別顯示（或屏蔽）*相位的信號（干擾）。
同步消隱：在配合阻抗單元和耦合電容的情況下，可對來自地網、試驗電源和試驗現場空間的干擾進行同步濾除。
性鑒別：可通過放電信號的脈沖性區分，是試品內部，還是外部的放電，有效去除外部干擾。
頻譜分析：基于FFT算法實現的頻譜分析與FIR數字濾波功能。
增益可調：在量程切換跨度內，實現增益連續可調。
保存打印：可保存單次放電的數據，也可記錄一段時間的局部放電圖形及相關參數，保存的數據可回放和重現方便后期分析。對單次放電的數據提供打印功能。

通用試驗方法
（一）試驗目的：（1）證實試品在規定電壓下沒有高于規定值之局部放電；
（2）測定電壓上升時出現放電超過某一規定值時的低電壓（起始放電電壓）和電壓下降時放電低于規定值時高電壓（終止放電電壓）。
（3）測定在某一規定電壓下的放電強度。
（二）試驗條件：（1）交流電源電壓應為正弦波，不應有過大的高次諧波。
（2）試品的電氣、機械溫度條件應良好且穩定。
（3）由于電壓回滯現象的影響，在試驗前至少幾小時以上的時間內，不要承受超過規定的局部放電試驗電壓高值以上的電壓。
（4）經過搬運后的試品，必須靜放一段時間后再做局部放電試驗（油浸）。
（三）試驗程序：1．將試驗區內的雜物盡量移到試區以外，金屬體應牢固接地，檢查和改善試區內一切可能放電的部位，應特別注意地線是否已接地。
2．根據不同的試品和試驗條件，選擇正確的接線方式。
3．對所選擇的測試回路用視在放電量標準器對整個測試系統進行刻度系數校正，校正時對所規定的刻度系數K值調節儀器的增益旋鈕，把H調到H=UoCo/K值。校正完畢后，測試儀器的細調（連續調節）增益旋鈕不得隨意變動，同時應將視在放電器校準器從高壓線路上取下，以免在加壓試驗時將視在放電量校準品擊穿而使高壓線路短路。
（四）注意事項：1．在試驗開始加壓以前，試驗人員必須詳細而全面地檢查一遍線路，以免線路接錯。測試儀器處的接地線是否與接地體牢固連接，若連接不牢或在準備工作時接地線被腳踢斷，這將可能引起人身和設備事故。切切!
2．對于連接線應避免將暴露在外，屏蔽罩不能與試品的瓷裙相接觸。
3．試驗完畢后，應對整個測試系統再進行一次復查校正，驗證是否與試驗前所校正出的刻度系數相等，以免測試儀器或其它環節在試驗過程中發生故障而使測試結果不對。

每個通道的輸入信號立的經過前級低通濾除部分低頻信號，再經過衰減或放大處理，然后經過細調增益控制，經過更精密一級的高低通濾波，進一步篩選出放電信號，經過高速寬頻帶12位AD轉換器進行模數轉換，得到的數據經過FPGA存儲在緩存SDRAM中，再由FPGA通過USB（或以太網）上傳給PC機或工控主機系統進行顯示。
試驗電壓信號經過電壓互感器隔離變換成小信號，小信號分兩路：一路經過調理得到試驗電壓的外零標信號，另一路經過有效值轉換和A/D轉換得到試驗電壓數據。該數據由FPGA送給PC機或工控主機系統進行顯示。

零標輸入單元作為局部放電檢測系統的相位基準，對識別局部放電和干擾有重要作用，本儀器系統內置內零標單元和外零標輸入單元。外零標輸入時，系統的相位可以和外零標輸入嚴格同步，且無頻率間隔要求，故可以和無局放串聯諧振電源相配合，外零標的輸入范圍為：交流10∽380V，30Hz∽300Hz。
在實際試驗中，可以將試驗電源電壓經分壓器降至10∽380V再接入零標單元。如果在屏幕上輸入分壓器的變比，可以直接測量出試驗電源電壓。例如，電容分壓器變比是500：1，則選擇變比為500。
如果試驗電源和儀器電源同相或試驗電源和工頻嚴格同步，可使用儀器內零標。
一般，當沒有外零標輸入信號時，儀器自動選擇內零標作為本系統的相位基準。如果試驗電源和儀器電源相位不同，必須對其相位進行校正后才可測量。