根據DC/T626-2005國電標準，開發研究的ED0406A絕緣子分布電壓測試儀主要用于交流線路35～500KV的帶電測量過線塔的絕緣子串電壓分布值。也可用于試驗室內35KV以及交流電壓的測量。是一種理想的保障線路運行安全的檢測儀表和帶電作業工具。
絕緣子分布電壓測試儀用于35～500KV的過線塔的絕緣子串電壓分布值的檢測。檢測時，作業人員可用操作桿進行作業，采用電壓信號感應原理和液晶顯示電壓值，不存在放電過程，可以保障線路的運行安全和作業人員的安全。
術語和定義
除了符合本標準規定的術語外，還應符合GB/T 2900.5和GB/T 2900.8的規定。
1試驗電壓　test voltage
在整個試驗期間連續地施加在絕緣子上電壓的均方根值。
2試驗設備的短路電流（lsc）　short-circuit current of test device
試品在試驗電壓下短路時由試驗設備所供給電流的均方根值。
3鹽度（Sa） salinity
鹽在自來水中溶液的濃度，它由鹽量除以溶液體積來表示，kg/m3。
4污穢層　pollution layer
由鹽和惰性材料組成的在絕緣子的絕緣表面上的導電電解層。
5污層電導率（K）　layer conductivity
污層的電導與形狀因數的乘積，它通常以μS表示。
6污穢度　pollution grade
表征施加在被試絕緣子上的人工污穢的量（鹽度、污層電導率、附鹽密度）的值。
7附鹽密度（SDD） salt deposit density
沉積在絕緣子的絕緣表面上的鹽量除以該表面的面積，它通常以mg/cm2表示。
8基準鹽度　reference salinity
表征某一試驗所使用的鹽度值。
9基準污層電導率　reference laver conductivity
表征某一試驗所使用的污層電導率的數值，它定義為僅僅在進行電導測量時帶電的一絕緣子的潮濕污層的電導率的大值。
10基準附鹽密度　reference salt deposit density
表征某一試驗所使用的附鹽密度的數值，它定義為從進行任一試驗前染污了的絕緣子中選取的幾個絕緣子或在所選取的幾個絕緣子的幾個部分上測得的附鹽密度的平均值。
11規定的耐受污穢度　specified withstand pollution grade
絕緣子在5.5或E.7.3規定的條件下，四次試驗中至少有三次試驗能耐受住規定試驗電壓的絕緣子的基準污穢度。
12大耐受污穢度　maximum withstand pollution grade
絕緣子在5.5或E.7.3規定的條件下，在規定的試驗電壓下四次試驗中至少有三次試驗能耐受住的高污穢度。
13規定耐受電壓　specified withstand voltage
施加到絕緣子上的試驗電壓，絕緣子在此試驗電壓和5.5或E.7.3規定的條件下，四次試驗中至少有三次試驗能耐受住規定的污穢度。
14大耐受電壓　maximum withstand voltage
絕緣子在5.5或E.7.3規定的條件下，四次試驗中至少有三次試驗能耐受住規定的污穢度的高試驗電壓。

登桿前，將操作桿連接并調好探頭間隙，保持操作桿安全距離，系好安全帶進行檢測工作。檢驗絕緣子時，探頭與絕緣子兩端鋼帽或金屬接觸，若絕緣子絕緣性能良好，間隙放電產生火花，同時發出放電響聲和燈光指示，若絕緣子是不良的（低值或零值），則分布在該絕緣子上的電位差很小或者等于零，不能產生火花間隙放電即沒有放電聲響和燈光指示時，這種瓷瓶就為零值或低值，應立即更換。

產品特點
1、真空抽濾裝置技術成熟，使用方便、效率高。含有多個抽頭，可一次實現多個過濾過程。使用水循環裝置代替油循環泵，使用更為方便，故障率低。
2、鼓風干燥采用德國技術，風道；風機噪聲小，性能穩定。
3、微電腦智能控制，設定溫度后，儀表自行判斷加熱所需功率，并顯示加熱狀態，控溫穩定。
4、可調式進風口，控制箱內溫度和氣體的排放。
5、高精度電子分析天平具有數字化多點線性修正、漂移修正、開機自檢和去皮等多種功能。
6、附帶配套計算軟件，計算方便，且結果更為。

產品介紹
1﹑產品使用3位半數字液晶顯示屏。
2﹑電源開關采用輕觸按鈕，按一下開機，再按一下關機。無信號或信號較小時，20分鐘后自動關機。
3﹑按住設置按鈕不松手，顯示屏顯示設置電壓值。松手后，顯示屏左邊顯示兩點,表示報警生效。
4﹑報警生效后，當測量電壓大于設置電壓時，蜂鳴器會發出報警聲，用于提示。
5﹑按住設置按鈕的同時，可以用2mm一字起調整設置微調，調整范圍在0到50KV。
6﹑連續按兩下設置按鈕，左邊兩點消失，報警取消。
7﹑如果顯示屏顯示低電壓，說明電池電壓太低。可以在下次使用前充電。
8﹑充電時，將充電器插到220V市電，充電器的輸出插頭插入儀表的充電插座。充電器上紅燈亮，表示充電，綠燈亮，表示充滿。一般充電一小時即可，長時間充電損壞元器件。