1．局部放電：局部放電是指導體間絕緣僅被部分橋接的電氣放電，這種放電可以在導體附近發生，也可以不在導體附件發生。
2．視在電荷量q：在試品兩端瞬時注入一定電荷量，使試品端電壓的變化和由局部放電本身引起的端電壓的變化相同，此注入量即為局部放電的視在電荷包量。
3．視在放電量校準器：視在放電量校準器由校準脈沖發生器與校準電容串聯組成，是一個校準電荷產生裝置。
校準脈沖發生器產生規定波形的脈沖電壓，通過校準電容對被試品注入電荷，模擬被試品局部放電時的視在放電電荷。
校準器的主要技術參數包括校準脈沖波形上升時間、衰減時間、校準脈沖峰值及校準電容值。
電壓波形上升時間為從0.1Uo到0.9Uo時間，衰減時間性定義為從峰值下降到0.1Uo的時間。
每個通道的輸入信號立的經過前級低通濾除部分低頻信號，再經過衰減或放大處理，然后經過細調增益控制，經過更精密一級的高低通濾波，進一步篩選出放電信號，經過高速寬頻帶12位AD轉換器進行模數轉換，得到的數據經過FPGA存儲在緩存SDRAM中，再由FPGA通過USB（或以太網）上傳給PC機或工控主機系統進行顯示。
試驗電壓信號經過電壓互感器隔離變換成小信號，小信號分兩路：一路經過調理得到試驗電壓的外零標信號，另一路經過有效值轉換和A/D轉換得到試驗電壓數據。該數據由FPGA送給PC機或工控主機系統進行顯示。

技術參數
4.1．可測試品的電容范圍：6ｐF~250ｕF
4.2．檢測靈敏度及允許電流(見表1)。
4.3．橢圓掃描時基
(1) 頻率：50、100、150、200、400Ｈz
(2) 旋轉：以30度為一檔，可旋轉度。
(3) 工作方式：標準－擴展－直線。
(4) 時基橢圓的輸入電壓范圍：13~275Ｖ。
4.4．顯示單元
采用100×80mm矩形示波管，有亮度與聚焦調節旋鈕。
4.5．放大器
(1) 3dB低頻端頻fL：20、40kHz任選。
(2) 3dB端頻率fH：80、300kHz任選。
(3) 增益調節：粗調6檔，檔間增益差±5%。
(4) 細調范圍：＞。
(5) 正、負脈沖響應不對稱性：＜5%。
4.6．時間窗
(1) 窗寬：5度~150度(50Hz) 連續可調。
(2) 窗位置：每一窗可旋轉0度~170度。
(3) 兩個時間窗可分別或同時控制。
4.7、脈沖峰值表
(1) 線性指示：0~100誤差不大于5%。
對數指示：1~100誤差不大于5%。
pC表直接讀數：0~100誤差不大于5%。
4.8、具有識別放電脈沖相位的零標志系統。
4.9、工作電源  220V±10%   工頻
4.10、體積：440×430×180mm
4.11、重量：約15Kg

通用試驗方法
（一）試驗目的：（1）證實試品在規定電壓下沒有高于規定值之局部放電；
（2）測定電壓上升時出現放電超過某一規定值時的低電壓（起始放電電壓）和電壓下降時放電低于規定值時高電壓（終止放電電壓）。
（3）測定在某一規定電壓下的放電強度。
（二）試驗條件：（1）交流電源電壓應為正弦波，不應有過大的高次諧波。
（2）試品的電氣、機械溫度條件應良好且穩定。
（3）由于電壓回滯現象的影響，在試驗前至少幾小時以上的時間內，不要承受超過規定的局部放電試驗電壓高值以上的電壓。
（4）經過搬運后的試品，必須靜放一段時間后再做局部放電試驗（油浸）。
（三）試驗程序：1．將試驗區內的雜物盡量移到試區以外，金屬體應牢固接地，檢查和改善試區內一切可能放電的部位，應特別注意地線是否已接地。
2．根據不同的試品和試驗條件，選擇正確的接線方式。
3．對所選擇的測試回路用視在放電量標準器對整個測試系統進行刻度系數校正，校正時對所規定的刻度系數K值調節儀器的增益旋鈕，把H調到H=UoCo/K值。校正完畢后，測試儀器的細調（連續調節）增益旋鈕不得隨意變動，同時應將視在放電器校準器從高壓線路上取下，以免在加壓試驗時將視在放電量校準品擊穿而使高壓線路短路。
（四）注意事項：1．在試驗開始加壓以前，試驗人員必須詳細而全面地檢查一遍線路，以免線路接錯。測試儀器處的接地線是否與接地體牢固連接，若連接不牢或在準備工作時接地線被腳踢斷，這將可能引起人身和設備事故。切切!
2．對于連接線應避免將暴露在外，屏蔽罩不能與試品的瓷裙相接觸。
3．試驗完畢后，應對整個測試系統再進行一次復查校正，驗證是否與試驗前所校正出的刻度系數相等，以免測試儀器或其它環節在試驗過程中發生故障而使測試結果不對。

主要特點
該儀器具有靈敏度高、放大器系統動態范圍大、測試的試品范圍廣、操作簡便等優點。并采用的抗干擾組件和特的門顯示電路，抗干擾能力強，并具有四種橢圓掃描，適用于高壓產品的型式、出廠試驗，新產品研制試驗，電機、互感器、電纜、套管、電容器、變壓器、避雷器、開關及其它高壓電器局部放電的定量測試。可供制造廠、科研部門、電力部門現場使用。