若試品Cx在試驗電壓下產生局部放電時，經耦合電容Ck產生脈沖電流，由輸入單元拾取得脈沖訊號，經低噪音前置放大、濾波放大器選擇所需頻帶及主放放大后，在示波屏的橢圓掃描基線上顯示出電放脈沖，同時也送到脈沖峰值表（對數表）顯示其峰值。時間窗單元控制試驗電壓每一周期內脈沖峰值表的工作時間，并在這段時間內將顯示屏的顯示加亮，寬度與位置可以改變，進一步加強了抗干擾能力。
功能特點
測量通道：2/4通道測量，立的信號調理、AD采樣、處理、顯示，且實現同步采樣。
測量功能：可檢測局部放電幅值、性、相位、放電起始電壓、熄滅電壓、次數等相關參數。
同步功能：內、外同步選擇，且具有零標指示和相位分辨功能。
顯示方式：可選擇橢圓、直線、正弦及二維、三維等界面顯示局部放電信號，可直觀的分析測試過程中信號的頻率、相位、幅度以及試驗電壓之間的相互關系。
局部放大：可對單個或某一段放電信號進行波形分析，確定信號的性質。
開窗功能：可在*相位開窗（消隱），用于特別顯示（或屏蔽）*相位的信號（干擾）。
同步消隱：在配合阻抗單元和耦合電容的情況下，可對來自地網、試驗電源和試驗現場空間的干擾進行同步濾除。
性鑒別：可通過放電信號的脈沖性區分，是試品內部，還是外部的放電，有效去除外部干擾。
頻譜分析：基于FFT算法實現的頻譜分析與FIR數字濾波功能。
增益可調：在量程切換跨度內，實現增益連續可調。
保存打印：可保存單次放電的數據，也可記錄一段時間的局部放電圖形及相關參數，保存的數據可回放和重現方便后期分析。對單次放電的數據提供打印功能。

技術參數
4.1．可測試品的電容范圍：6ｐF~250ｕF
4.2．檢測靈敏度及允許電流(見表1)。
4.3．橢圓掃描時基
(1) 頻率：50、100、150、200、400Ｈz
(2) 旋轉：以30度為一檔，可旋轉度。
(3) 工作方式：標準－擴展－直線。
(4) 時基橢圓的輸入電壓范圍：13~275Ｖ。
4.4．顯示單元
采用100×80mm矩形示波管，有亮度與聚焦調節旋鈕。
4.5．放大器
(1) 3dB低頻端頻fL：20、40kHz任選。
(2) 3dB端頻率fH：80、300kHz任選。
(3) 增益調節：粗調6檔，檔間增益差±5%。
(4) 細調范圍：＞。
(5) 正、負脈沖響應不對稱性：＜5%。
4.6．時間窗
(1) 窗寬：5度~150度(50Hz) 連續可調。
(2) 窗位置：每一窗可旋轉0度~170度。
(3) 兩個時間窗可分別或同時控制。
4.7、脈沖峰值表
(1) 線性指示：0~100誤差不大于5%。
對數指示：1~100誤差不大于5%。
pC表直接讀數：0~100誤差不大于5%。
4.8、具有識別放電脈沖相位的零標志系統。
4.9、工作電源  220V±10%   工頻
4.10、體積：440×430×180mm
4.11、重量：約15Kg

超聲波法檢測原理
當變壓器內部產生放電信號時，除產生放電脈沖電流沿容性回路傳輸外，同時還會激發出機械波（超聲波）信號通過變壓器油向四周傳播。雖然電力變壓器的結構較為復雜，但是變壓器的整個器身內充滿了變壓器油，而繞組、絕緣材料、支撐、夾件、引線等部件均浸在油中，由于變壓器油為超聲波的良好傳播媒介，這為在箱壁外側檢測局放產生的超聲信號提供了有力條件。所以，在變壓器的箱壁外側安放超聲波傳感器可以接收到內部較大的放電信號。

通用試驗方法
（一）試驗目的：（1）證實試品在規定電壓下沒有高于規定值之局部放電；
（2）測定電壓上升時出現放電超過某一規定值時的低電壓（起始放電電壓）和電壓下降時放電低于規定值時高電壓（終止放電電壓）。
（3）測定在某一規定電壓下的放電強度。
（二）試驗條件：（1）交流電源電壓應為正弦波，不應有過大的高次諧波。
（2）試品的電氣、機械溫度條件應良好且穩定。
（3）由于電壓回滯現象的影響，在試驗前至少幾小時以上的時間內，不要承受超過規定的局部放電試驗電壓高值以上的電壓。
（4）經過搬運后的試品，必須靜放一段時間后再做局部放電試驗（油浸）。
（三）試驗程序：1．將試驗區內的雜物盡量移到試區以外，金屬體應牢固接地，檢查和改善試區內一切可能放電的部位，應特別注意地線是否已接地。
2．根據不同的試品和試驗條件，選擇正確的接線方式。
3．對所選擇的測試回路用視在放電量標準器對整個測試系統進行刻度系數校正，校正時對所規定的刻度系數K值調節儀器的增益旋鈕，把H調到H=UoCo/K值。校正完畢后，測試儀器的細調（連續調節）增益旋鈕不得隨意變動，同時應將視在放電器校準器從高壓線路上取下，以免在加壓試驗時將視在放電量校準品擊穿而使高壓線路短路。
（四）注意事項：1．在試驗開始加壓以前，試驗人員必須詳細而全面地檢查一遍線路，以免線路接錯。測試儀器處的接地線是否與接地體牢固連接，若連接不牢或在準備工作時接地線被腳踢斷，這將可能引起人身和設備事故。切切!
2．對于連接線應避免將暴露在外，屏蔽罩不能與試品的瓷裙相接觸。
3．試驗完畢后，應對整個測試系統再進行一次復查校正，驗證是否與試驗前所校正出的刻度系數相等，以免測試儀器或其它環節在試驗過程中發生故障而使測試結果不對。