1．局部放電：局部放電是指導體間絕緣僅被部分橋接的電氣放電，這種放電可以在導體附近發(fā)生，也可以不在導體附件發(fā)生。
2．視在電荷量q：在試品兩端瞬時注入一定電荷量，使試品端電壓的變化和由局部放電本身引起的端電壓的變化相同，此注入量即為局部放電的視在電荷包量。
3．視在放電量校準器：視在放電量校準器由校準脈沖發(fā)生器與校準電容串聯(lián)組成，是一個校準電荷產(chǎn)生裝置。
校準脈沖發(fā)生器產(chǎn)生規(guī)定波形的脈沖電壓，通過校準電容對被試品注入電荷，模擬被試品局部放電時的視在放電電荷。
校準器的主要技術參數(shù)包括校準脈沖波形上升時間、衰減時間、校準脈沖峰值及校準電容值。
電壓波形上升時間為從0.1Uo到0.9Uo時間，衰減時間性定義為從峰值下降到0.1Uo的時間。
通用試驗方法
（一）試驗目的：（1）證實試品在規(guī)定電壓下沒有高于規(guī)定值之局部放電；
（2）測定電壓上升時出現(xiàn)放電超過某一規(guī)定值時的低電壓（起始放電電壓）和電壓下降時放電低于規(guī)定值時高電壓（終止放電電壓）。
（3）測定在某一規(guī)定電壓下的放電強度。
（二）試驗條件：（1）交流電源電壓應為正弦波，不應有過大的高次諧波。
（2）試品的電氣、機械溫度條件應良好且穩(wěn)定。
（3）由于電壓回滯現(xiàn)象的影響，在試驗前至少幾小時以上的時間內(nèi)，不要承受超過規(guī)定的局部放電試驗電壓高值以上的電壓。
（4）經(jīng)過搬運后的試品，必須靜放一段時間后再做局部放電試驗（油浸）。
（三）試驗程序：1．將試驗區(qū)內(nèi)的雜物盡量移到試區(qū)以外，金屬體應牢固接地，檢查和改善試區(qū)內(nèi)一切可能放電的部位，應特別注意地線是否已接地。
2．根據(jù)不同的試品和試驗條件，選擇正確的接線方式。
3．對所選擇的測試回路用視在放電量標準器對整個測試系統(tǒng)進行刻度系數(shù)校正，校正時對所規(guī)定的刻度系數(shù)K值調(diào)節(jié)儀器的增益旋鈕，把H調(diào)到H=UoCo/K值。校正完畢后，測試儀器的細調(diào)（連續(xù)調(diào)節(jié)）增益旋鈕不得隨意變動，同時應將視在放電器校準器從高壓線路上取下，以免在加壓試驗時將視在放電量校準品擊穿而使高壓線路短路。
（四）注意事項：1．在試驗開始加壓以前，試驗人員必須詳細而全面地檢查一遍線路，以免線路接錯。測試儀器處的接地線是否與接地體牢固連接，若連接不牢或在準備工作時接地線被腳踢斷，這將可能引起人身和設備事故。切切!
2．對于連接線應避免將暴露在外，屏蔽罩不能與試品的瓷裙相接觸。
3．試驗完畢后，應對整個測試系統(tǒng)再進行一次復查校正，驗證是否與試驗前所校正出的刻度系數(shù)相等，以免測試儀器或其它環(huán)節(jié)在試驗過程中發(fā)生故障而使測試結(jié)果不對。

地電波法檢測原理（開關柜）
當開關柜的對地絕緣部分發(fā)生局部放電時，高壓帶電導體對接地金屬殼之間就有少量電容性放電電量，這種電容性放電電量的特點是電量很?。◣渍追种粠靷悾?，持續(xù)時間很短（幾納秒）。由于放電點在開關柜內(nèi)部，電磁波產(chǎn)生的電壓脈沖在金屬外殼內(nèi)表面?zhèn)鞑?，被金屬外殼所屏蔽。如果屏蔽層是連續(xù)的，則無法在外部檢測到放電信號。實際上，屏蔽層通常在金屬箱體的接縫處、氣體開關的絕緣襯墊、墊圈的連接處、電纜絕緣終端等部位因破損而導致不連續(xù)。當電壓脈沖通過這些不連續(xù)處時，將通過這些通道傳播出去，然后沿著金屬殼外表傳到大地，同時在開關柜的金屬箱體上產(chǎn)生一個暫態(tài)對地電壓（一般在幾十毫伏到幾伏，而且時間只能維持幾納秒），可以在運行中的開關柜金屬外箱殼上放置電容耦合式傳感器來檢測這個信號。

每個通道的輸入信號立的經(jīng)過前級低通濾除部分低頻信號，再經(jīng)過衰減或放大處理，然后經(jīng)過細調(diào)增益控制，經(jīng)過更精密一級的高低通濾波，進一步篩選出放電信號，經(jīng)過高速寬頻帶12位AD轉(zhuǎn)換器進行模數(shù)轉(zhuǎn)換，得到的數(shù)據(jù)經(jīng)過FPGA存儲在緩存SDRAM中，再由FPGA通過USB（或以太網(wǎng)）上傳給PC機或工控主機系統(tǒng)進行顯示。
試驗電壓信號經(jīng)過電壓互感器隔離變換成小信號，小信號分兩路：一路經(jīng)過調(diào)理得到試驗電壓的外零標信號，另一路經(jīng)過有效值轉(zhuǎn)換和A/D轉(zhuǎn)換得到試驗電壓數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)由FPGA送給PC機或工控主機系統(tǒng)進行顯示。

功能特點
測量通道：2/4通道測量，立的信號調(diào)理、AD采樣、處理、顯示，且實現(xiàn)同步采樣。
測量功能：可檢測局部放電幅值、性、相位、放電起始電壓、熄滅電壓、次數(shù)等相關參數(shù)。
同步功能：內(nèi)、外同步選擇，且具有零標指示和相位分辨功能。
顯示方式：可選擇橢圓、直線、正弦及二維、三維等界面顯示局部放電信號，可直觀的分析測試過程中信號的頻率、相位、幅度以及試驗電壓之間的相互關系。
局部放大：可對單個或某一段放電信號進行波形分析，確定信號的性質(zhì)。
開窗功能：可在*相位開窗（消隱），用于特別顯示（或屏蔽）*相位的信號（干擾）。
同步消隱：在配合阻抗單元和耦合電容的情況下，可對來自地網(wǎng)、試驗電源和試驗現(xiàn)場空間的干擾進行同步濾除。
性鑒別：可通過放電信號的脈沖性區(qū)分，是試品內(nèi)部，還是外部的放電，有效去除外部干擾。
頻譜分析：基于FFT算法實現(xiàn)的頻譜分析與FIR數(shù)字濾波功能。
增益可調(diào)：在量程切換跨度內(nèi)，實現(xiàn)增益連續(xù)可調(diào)。
保存打印：可保存單次放電的數(shù)據(jù)，也可記錄一段時間的局部放電圖形及相關參數(shù)，保存的數(shù)據(jù)可回放和重現(xiàn)方便后期分析。對單次放電的數(shù)據(jù)提供打印功能。